離線電容式測厚儀在薄膜行業(yè)的運用
模型 | TOF-C2 * TOF-C的后繼機型 |
---|---|
測量方法 | 非接觸式/電容式 |
測量對象 | 薄膜、粘性保護膜、易沾灰塵的薄膜 |
測量原理 | 電容式 |
高測量分辨率
由于它是非接觸式,因此非常適用于難以用接觸式測量的薄膜。
即使表面條件粗糙,也可以進行測量。
基重測量
操作簡單(具有自動介電常數(shù)設(shè)置功能)
測量厚度 | ~ 500 微米 |
---|---|
測量長度 | 10 至 10000 毫米 |
測量間距 | 1 毫米 ~ |
小顯示值 | 0.01微米 |
電源電壓 | AC100V 50 / 60Hz |
工作溫度限制 | 5-40℃(測量時溫度變化1℃以內(nèi)) |
濕度 | 35-80%(無冷凝) |
©2024 秋山科技(東莞)有限公司(www.blognn.cn) 版權(quán)所有 總訪問量:339796 sitemap.xml
地址:東莞市塘廈鎮(zhèn)塘廈大道298號603室 技術(shù)支持:環(huán)保在線 管理登陸 備案號:粵ICP備20060244號