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日本理研計器費米能級測量裝置FAC-2

訪問次數(shù)：767

更新日期：2024-03-26

簡要描述：

日本理研計器費米能級測量裝置FAC-2
專用于光刻樣品的開爾文探針
輕松設(shè)置樣品，無需微調(diào)電極和樣品之間的距離

日本理研計器費米能級測量裝置FAC-2
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日本理研計器費米能級測量裝置FAC-2

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特征

專用于光刻樣品的開爾文探針

輕松設(shè)置樣品，無需微調(diào)電極和樣品之間的距離

可在大氣中測量半導(dǎo)體樣品的費米能級

由于測量時間短，因此非常適合測量隨時間變化的情況，例如成膜或表面處理后金屬表面的變化。

目的

有機電子材料的費米能級測量

金屬和導(dǎo)電薄膜功函數(shù)的測量

日本理研計器費米能級測量裝置FAC-2

產(chǎn)品分類

開爾文探針

模型

FAC-2

測量原理

開爾文法

測量零件尺寸

Φ10mm

測量能量范圍

3.4 至 6.2eV（使用功函數(shù)為 5.0eV 的參考樣品進(jìn)行校準(zhǔn)時）

測量時間

10 秒或更短（如果樣品是金屬）

重復(fù)性（標(biāo)準(zhǔn)差）

功函數(shù)0.02eV（樣品：金板）

溫濕度范圍

溫度范圍15-35℃，濕度20-60%RH

電源

AC100V，50/60Hz 5A（最大）

外形尺寸

約235（寬）×330毫米（高）×408（深）毫米

重量

約12公斤



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