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日本spectra便攜式光譜儀 光學(xué)測量儀

訪問次數(shù)：875

更新日期：2024-03-23

簡要描述：

日本spectra便攜式光譜儀Handy Lambda Ⅲ UV-VIS enh.
Handy Lambda III 移動光譜儀重量輕且耐用，可在任何地方、戶外或工廠中進行實驗室級光譜分析。

日本spectra便攜式光譜儀 光學(xué)測量儀
品牌其他品牌產(chǎn)品種類臺式
數(shù)顯功能有溫控功能有
產(chǎn)地進口

日本spectra便攜式光譜儀Handy Lambda Ⅲ UV-VIS enh.

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特征


  • Handy Lambda III 移動光譜儀重量輕且耐用，可在任何地方、戶外或工廠中進行實驗室級光譜分析。

  • 鋰離子電池類型無需固定電源即可實現(xiàn)簡單測量，內(nèi)置探測器的信噪比為5000：1，并根據(jù)要求在設(shè)備中內(nèi)置光源。

  • 通過將 USB 接口連接到您的 PC，測量樣品的反射、透射和吸收光譜將以 CSV 和 Excel 格式自動保存在現(xiàn)場。

  • 內(nèi)置光源配有電磁快門，可通過軟件控制打開/關(guān)閉。

  • 除了定制規(guī)格外，我們還提供專用選項，例如太陽能探頭、專用標準光源和用于水下測量的傾斜傳感器。

各型號的產(chǎn)品規(guī)格

型方便的λ III. UV-VIS 恩。方便的拉姆達三。方便的氧紫外可見分光度計方便的λ紫外線-VISII。方便的氧紫外線
目標波長310-1100納米310-1100nm
（近紅外型）		190-720納米250-785納米190-400納米
半角分辨率10納米10納米7納米7納米3納米
波長精度0.3納米0.3納米0.2納米0.2納米0.2納米
波長色散3.3納米/1 晶片3.3納米/1 晶片2.2納米/1 晶片2.2納米/1 晶片0.8納米/1 晶片
取決于波長溫度<0.02納米/°C<0.02納米/°C<0.006納米/°C<0.006納米/°C<0.006納米/°C
檢測線性陣列256 元素256 元素256 元素256 元素256 元素
接口USB2.0USB2.0USB2.0USB2.0USB2.0
價格（含稅）開盤價開盤價開盤價開盤價開盤價









日本spectra便攜式光譜儀Handy Lambda Ⅲ UV-VIS enh.

戶外太陽反射光譜遙測
在環(huán)境應(yīng)用中，可以測量10米外有限面積樹木的太陽反射光譜。
光譜光學(xué)系統(tǒng)的視場也包括在數(shù)碼相機的視場中，并且有效地測量了確認為圖像的部分的太陽光反射。 通過應(yīng)用該系統(tǒng)，即使樣品和測量位置相距超過10 m，也可以輕松進行光譜測量。
測量發(fā)光顯示器的亮度和色度
我們用小型設(shè)備滿足測量液晶顯示器、OLED、LED 顯示器的亮度和色度的需求。 通過標準化光纖光譜儀和標準白光源的使用，光學(xué)系統(tǒng)可以以多種方式使用。
考慮陽光變化的反射測量
考慮到陽光水平的不穩(wěn)定，我們提出了一種具有兩個通道的緊湊型光譜儀。
通過專用擴散器的太陽光被校準為水平位移，然后入射到太陽監(jiān)測光譜儀上。 將數(shù)據(jù)輸入到預(yù)先測量的標準板的反射數(shù)據(jù)中，從而消除了標準反射數(shù)據(jù)因陽光而波動的影響。 這種方法不僅可以用于陽光，還可以用于所有不穩(wěn)定的光源。
流動薄膜和片材樣品的反射測量
可以從多個測量點同時測量流動薄膜和片材的反射光譜。 一個通道可用于參考樣品，如標準板，其余通道上可以測量多個點。
光學(xué)元件的精密反射測量
Handy Lambda III 是適合光學(xué)樣品（如光學(xué)器件和薄膜）反射率測量應(yīng)用的光譜儀。 由于它是一種光纖入射方法，因此通過使用各種光學(xué)探頭，甚至可以適應(yīng)最小的樣品和測量點。 除反射外，透射探頭還可用于透射率測量、集成球體探頭和顯微鏡，其應(yīng)用多種多樣。
測量液體樣品的吸光度
過去，使用光測量液體的吸光度主要使用專用的石英池完成。 然而，電池處理起來很麻煩，因此長期以來一直需要石英電池的探針。
根據(jù)波段的不同，Handy Lambda III 還提供兩種類型的石英材料，包括作為標準附件的石英探頭。 還有一些探頭可用于溶解連接光學(xué)單元和探頭的粘合劑的樣品，例如有機溶劑。 使用專用軟件Wave Viewer，不僅可以顯示吸光度，還可以連續(xù)測量液體濃度的變化。



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