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日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S

訪問次數(shù):1592

更新日期:2024-03-21

簡要描述:

日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S
該設(shè)備是用于SEM觀察的貴金屬薄膜鍍膜設(shè)備。它是一種執(zhí)行貴金屬涂層以防止 SEM 樣品充電并提高二次電子產(chǎn)生效率的設(shè)備。

日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S

日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S

該設(shè)備是用于SEM觀察的貴金屬薄膜鍍膜設(shè)備。它是一種執(zhí)行貴金屬涂層以防止 SEM 樣品充電并提高二次電子產(chǎn)生效率的設(shè)備。除了通過磁控管靶電極進(jìn)行低壓放電外,樣品臺制成浮動式,以減少由于電子束流入造成的樣品損壞。操作簡單,按一下按鈕,沒有技巧。它很小,不占用空間。在桌子的角落里很有用。

采用

用于 SEM 樣品的金屬鍍膜裝置。


日本shinkuu SEM樣品的金屬鍍膜裝置MSP-1S

主要產(chǎn)品規(guī)格

物品規(guī)格
電源AC100V(單相100V10A)3P插頭1口帶地
旋轉(zhuǎn)泵10L/min(設(shè)備內(nèi)置)
設(shè)備尺寸寬 200 毫米 x 深 350 毫米 x 高 345 毫米
(設(shè)備重量:14.6 公斤)
樣品室尺寸內(nèi)徑 120 毫米 x 高 65 毫米(硬玻璃)
樣本表大小直徑50毫米(浮動法)
電極樣品臺間距35 mm(使用輔助樣品臺時(shí)為 25 mm)
靶電極內(nèi)置永磁體的磁控管型靶電極
目標(biāo)金屬規(guī)格Φ51 mm, 厚度 0.1 mm
Pt, Pt-Pd, Au, Au-Pd, Ag




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