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日本mcrl微型面積光澤儀GM-26DS 光學(xué)測(cè)量?jī)x

訪問次數(shù)：1068

更新日期：2024-03-18

簡(jiǎn)要描述：

日本mcrl微型面積光澤儀GM-26DS
符合ISO，ASTM，TAPPI等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的微區(qū)光澤度儀

日本mcrl微型面積光澤儀GM-26DS 光學(xué)測(cè)量?jī)x
品牌其他品牌產(chǎn)品種類臺(tái)式
數(shù)顯功能有溫控功能無(wú)
產(chǎn)地進(jìn)口

日本mcrl微型面積光澤儀GM-26DS

符合ISO，ASTM，TAPPI等國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的微區(qū)光澤度儀

測(cè)量口：φ10mm，測(cè)量面積：3 x 3 mm，樣品臺(tái)面朝上，因此即使將小樣品放在樣品臺(tái)上也可以測(cè)量。也可以通過自定義修改將測(cè)量開口減小到φ6。當(dāng)將樣品中的目標(biāo)部位作為測(cè)量點(diǎn)確認(rèn)功能進(jìn)行測(cè)量時(shí)，可以使用專yong反射鏡確認(rèn)測(cè)量點(diǎn)。

規(guī)格

  • 光學(xué)條件ISO 2813，ASTM D 523，JIS Z 8741

  • 光源鹵素?zé)?2V50W

  • 受光元件硅光電二極管

  • 測(cè)量面積約3 x 3毫米

  • 測(cè)量孔約Φ10mm

  • 日本mcrl微型面積光澤儀GM-26DS

  • 使用

  • 油漆表面，印刷表面，涂層表面等的光澤度測(cè)量

  • 聚合物材料（例如紙，磁帶和合成樹脂）的光澤度控制

  • 金屬板，鍍層表面等的光澤度管理

  • 瓷磚，陶瓷，陶瓷等的光澤度管理

  • 追求耐候性試驗(yàn)材料的劣化

  • 平板電腦光澤度管理[選項(xiàng)]?夾具的詳細(xì)


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