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日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測

訪問次數(shù)：985

更新日期：2024-03-17

簡要描述：

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100
超高電阻范圍：以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
平面多點(diǎn)測量功能

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測

日本napson超高電阻范圍兼容的薄層電阻檢測CRN-100

 

產(chǎn)品特點(diǎn)

  • 超高電阻范圍：以非接觸方式測量10E + 9至10E + 15Ω/□
  • 平面多點(diǎn)測量功能
  • 2D / 3D映射圖像顯示
  • Windows 7軟件
  • 測量數(shù)據(jù)可以CSV文件格式輸出
  • 由于是非接觸型，因此可以不受接觸電阻的影響進(jìn)行測量。

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

*通常，可以測量本設(shè)備測量范圍內(nèi)的任何樣品。請聯(lián)xi我們。

?超高電阻薄膜樣品（a-Si，IGZO等）

?半導(dǎo)體材料接近絕緣

?導(dǎo)電橡膠

這樣

測量尺寸

尺寸：z大300 x 400毫米

厚度：z大2毫米

*我們可以自定義您的要求，例如尺寸支持。請聯(lián)xi我們。

測量范圍

10E + 9?10E + 15Ω/□

 

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