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  • 0.1毫米透明塑料粒子黑點(diǎn)選別機(jī) 色選機(jī)

    0.1毫米透明塑料粒子黑點(diǎn)選別機(jī) AKIYAMA日本透明黑粒去除機(jī)塑料粒子色選機(jī)塑膠粒子色選機(jī) 塑料色彩選別機(jī) 0.1mm塑膠粒子色選機(jī) 0.1毫米透明粒子黑點(diǎn)選別機(jī) 透明樹脂粒子分揀機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1462    

  • 日本透明樹脂黑粒去除機(jī)-色選機(jī)

    日本透明樹脂黑粒去除機(jī) AKIYAMA日本透明黑粒去除機(jī)塑料粒子色選機(jī)塑膠粒子色選機(jī) 塑料色彩選別機(jī) 0.1mm塑膠粒子色選機(jī) 0.1毫米透明粒子黑點(diǎn)選別機(jī) 透明樹脂粒子分揀機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1521    

  • 日本塑料雜質(zhì)粒子色選機(jī)

    日本塑料雜質(zhì)粒子色選機(jī) AKIYAMA日本透明黑粒去除機(jī)塑料粒子色選機(jī)塑膠粒子色選機(jī) 塑料色彩選別機(jī) 0.1mm塑膠粒子色選機(jī) 0.1毫米透明粒子黑點(diǎn)選別機(jī) 透明樹脂粒子分揀機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1430    

  • 帶有瑕疵點(diǎn)的塑料粒子色選機(jī)

    日本帶有瑕疵點(diǎn)的塑料粒子色選機(jī) AKIYAMA日本透明黑粒去除機(jī)塑料粒子色選機(jī)塑膠粒子色選機(jī) 塑料色彩選別機(jī) 0.1mm塑膠粒子色選機(jī) 0.1毫米透明粒子黑點(diǎn)選別機(jī) 透明樹脂粒子分揀機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1348    

  • 日本進(jìn)口塑料粒子黑點(diǎn)色選機(jī)TS-7400TH

    日本進(jìn)口塑料粒子黑點(diǎn)色選機(jī)TS-7400TH AKIYAMA日本透明黑粒去除機(jī)塑料粒子色選機(jī)塑膠粒子色選機(jī) 塑料色彩選別機(jī) 0.1mm塑膠粒子色選機(jī) 0.1毫米透明粒子黑點(diǎn)選別機(jī) 透明樹脂粒子分揀機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1962    

  • 片劑,膠囊用金屬檢測(cè)器KDS1004PSW

    日本anritsu片劑,膠囊用金屬檢測(cè)器KDS1004PSW 降低金屬探測(cè)器的穩(wěn)定性主要原因是,會(huì)擾亂金屬探測(cè)器磁場(chǎng)的振動(dòng)、靜電和來自外圍設(shè)備的噪音等。安立的醫(yī)藥行業(yè)金屬探測(cè)器,通過加強(qiáng)針對(duì)這些原因的耐性,從而實(shí)現(xiàn)了穩(wěn)定的高靈敏度檢測(cè)。

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1440    

  • 日本MIC超高電阻測(cè)試儀AE-1644E

    日本MIC超高電阻測(cè)試儀AE-1644E 非常適合安裝 10kΩ ~ 1TΩ 芯片、Melf、軸向型 超高電阻機(jī)器分揀機(jī)、激光和切割機(jī)型修邊機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1185    

  • 日本MIC高精度超低電阻測(cè)量?jī)xAE-1152D

    日本MIC高精度超低電阻測(cè)量?jī)xAE-1152D 自動(dòng)測(cè)量超低電阻的理想之選 非常適合分流電阻器等的超低電阻測(cè)量。 取消熱電動(dòng)勢(shì)效應(yīng)的測(cè)量 脈沖測(cè)量電流,減少測(cè)量端子自熱和磨損

    更新日期:2024-03-20    訪問量:2021    

  • 日本MIC超高精度數(shù)字電阻測(cè)試儀AE-173E

    日本MIC超高精度數(shù)字電阻測(cè)試儀AE-173E 內(nèi)置換檔電磁閥電源:DC12V(2A)、24V(1A)/脈沖輸出(2A) 內(nèi)置無缺陷計(jì)數(shù)器

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1051    

  • 日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測(cè)儀AE-163L

    日本MIC超高精度、數(shù)字電阻檢測(cè)儀AE-163L 超小尺寸芯片 (0 2 0 1, 0 3 0 1 5 ...) 兼容精密電阻! 適用于 B、C、D、F、G、J、K 類、插入式、melf、徑向和軸向電阻分選機(jī)和編帶機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1015    

  • 日本MIC超高精度、超精密電阻檢測(cè)AE-163D

    日本MIC超高精度、超精密電阻檢測(cè)AE-163D 非常適合用于 B、C、D、F、G、J、K 級(jí)、插入、melph 、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1016    

  • AE-162L兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測(cè)器

    日本MIC兼容超小芯片高精度、數(shù)字電阻檢測(cè)器AE-162L D、F、G、J、K級(jí)超小尖頭(0201、03015)兼容編帶機(jī) 0201、03015尺寸超小型芯片兼容(測(cè)量功率0.02W以下/測(cè)量端子開路電壓9V以下)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:919    

  • 日本MIC超高速芯片電阻檢測(cè)儀AE-162E

    日本MIC超高速芯片電阻檢測(cè)儀AE-162E 由于模數(shù)隔離提高了抗噪性,因此穩(wěn)定性高 兼容極小的芯片(低功耗測(cè)量) 超高速 0.7msec.(代表值)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:943    

  • 日本MIC超高速芯片電阻檢測(cè)儀AE-162D

    日本MIC超高速芯片電阻檢測(cè)儀AE-162D 適用于 D、F、G、J、K 級(jí)、芯片、melph、徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

    更新日期:2024-03-20    訪問量:961    

  • 日本imt獨(dú)立負(fù)載型自動(dòng)拋光機(jī) Rana-3

    日本imt獨(dú)立負(fù)載型自動(dòng)拋光機(jī) Rana-3 Rana-3采用單獨(dú)加載方式,可自由設(shè)置1-6個(gè)樣品。 由于可以改變支架的轉(zhuǎn)數(shù),所以可以在相同的轉(zhuǎn)數(shù)下對(duì)支架和盤進(jìn)行拋光,并且拋光表面不會(huì)傾斜或變成鉛筆狀。 支架和圓盤都可以向前和向后旋轉(zhuǎn)。

    更新日期:2024-03-20    訪問量:1101    

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