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YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量儀
YP-250I液晶屏幕檢測(cè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：803
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 光學(xué)測(cè)量儀
YP-250I半導(dǎo)體行業(yè)用目視檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：829
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 光學(xué)測(cè)量儀
YP-250I晶圓表面瑕疵檢查燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：807
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測(cè)量儀
YP-250I高照度鹵素強(qiáng)光燈 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測(cè)出只有精密探測(cè)儀才可測(cè)出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
更新日期：2024-03-24 訪問量：892
YP-150I表面檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：825
YP-150I目視檢查燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：864
YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 光學(xué)測(cè)量儀
YP-150I鹵素強(qiáng)光燈 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：2776
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測(cè)量儀
日本yamada晶圓瑕疵目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：1692
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 光學(xué)測(cè)量儀
日本yamada電子元件目視檢查燈YP-150I 用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測(cè)出來
更新日期：2024-03-24 訪問量：811
日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 光學(xué)測(cè)量儀
日本sena玻璃晶圓目視檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：858
日本sena硅玻璃表面異物檢查燈185LE 光學(xué)測(cè)量儀
日本sena硅玻璃表面異物檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：723
日本sena玻璃表面劃痕檢查燈185le 光學(xué)測(cè)量儀
日本sena玻璃表面劃痕檢查燈185le 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：694
日本sena晶圓表面清潔度檢查燈185LE 光學(xué)測(cè)量儀
日本sena晶圓表面清潔度檢查燈185LE 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：739
日本sena電子行業(yè)用檢查燈185LE 光學(xué)測(cè)量儀
日本sena電子行業(yè)用檢查燈185LE 光學(xué)測(cè)量儀 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
更新日期：2024-03-24 訪問量：661
日本sena電子行業(yè)用鹵素?zé)?85LE 光學(xué)測(cè)量儀
日本sena電子行業(yè)用鹵素?zé)?85LE 光學(xué)測(cè)量儀 高照度照明設(shè)備（表面檢查燈）185LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。 適合于TFT面板、CF（彩色濾光片），觸摸屏制造等行業(yè)。
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