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densoku電解膜厚計(jì)的原理分析

  • 發(fā)布日期:2022-11-07      瀏覽次數(shù):533
    • densoku各類膜厚計(jì)的原理

      鍍膜厚度是通過(guò)陽(yáng)極電解法溶解鍍膜來(lái)測(cè)量的。(陽(yáng)極電解電路見圖1。)在鍍膜結(jié)束時(shí),由于測(cè)量部分被恒流溶解,膜金屬消失,當(dāng)金屬出現(xiàn)時(shí),陽(yáng)極電壓發(fā)生變化,檢測(cè)到此電壓變化以結(jié)束測(cè)量。(見圖2)

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      電解膜測(cè)厚儀的特點(diǎn)

      • 雖然是破壞型測(cè)量,但可以通過(guò)簡(jiǎn)單的測(cè)量進(jìn)行測(cè)量,也可以測(cè)量多層鍍層。

      • 可測(cè)量雙鎳和三鎳各層的膜厚和電位差

      • 可以分別測(cè)量在銅上鍍錫時(shí)形成的純錫層和合金層的厚度。

      • 可測(cè)量 X 射線無(wú)法測(cè)量的厚多層鍍層(最大 300 μm)

      • 通過(guò)使用電線測(cè)試儀,可以測(cè)量細(xì)電線上的鍍膜厚度。

      使用示例

      • 鍍錫線(鍍錫銅線)純錫層厚度測(cè)量

      • 汽車外飾件用Cr/Ni/Cu三層鍍層
        測(cè)量,Ni鍍層用雙鎳/三鎳電位差測(cè)量

      • 對(duì)無(wú)損膜厚計(jì)的測(cè)量進(jìn)行交叉檢查

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