薄膜材料上的不均勻、條紋和劃痕等難以區(qū)分的缺陷檢測技術(shù)
材料檢測裝置M-CAP V2是充分利用圖像處理技術(shù)開發(fā)的平原地面外觀檢測裝置。在保持傳統(tǒng)易用性的同時(shí),實(shí)現(xiàn)了更高的速度和更高的分辨率。除了檢測針孔、異物污染和污垢附著等小缺陷外,我們不會(huì)忽略薄膜材料上的不均勻、條紋和劃痕等難以區(qū)分的缺陷。
無論安裝位置如何,都可以靈活布局
取消了一體機(jī)的主體控制面板,由各功能的組件構(gòu)成。
它提高了安裝的自由度,有助于有效利用工廠空間。
追求用戶友好的易用性
采用液晶顯示器和易于使用的對話方式,操作簡單。
更新成像系統(tǒng)以實(shí)現(xiàn)高速和高分辨率通過
采用新開發(fā)的數(shù)碼相機(jī),實(shí)現(xiàn)了高速傳輸過程中清晰的圖像和微小缺陷的檢測。
標(biāo)配
原裝 LED 照明燈 采用實(shí)現(xiàn)高亮度和高顯色性的LED 照明燈。
也可以選擇魚眼(凝膠)和黑點(diǎn),由于特殊的結(jié)構(gòu)很難判斷。
即使
放大有缺陷的圖像也能清晰顯示通過利用人工智能的超分辨率技術(shù),即使放大和顯示有缺陷的圖像,圖像也不會(huì)變得粗糙。
通過廣泛的數(shù)據(jù)管理進(jìn)行有效的質(zhì)量控制
可以實(shí)時(shí)匯總每列和距離的缺陷數(shù)量,并且可以將數(shù)據(jù)輸出為 PDF 文件。
它還通過網(wǎng)絡(luò)支持?jǐn)?shù)據(jù)管理功能,有助于提高質(zhì)量控制效率和生產(chǎn)力。
檢查功能的顯著擴(kuò)展
通過同時(shí)檢查多達(dá) 5 個(gè)電路工藝,大大提高了檢查性能。
線性缺陷檢測電路增強(qiáng)了對皺紋、薄膜裂紋、毛發(fā)、絨毛等的檢測。
此外,光缺陷檢測電路增強(qiáng)了對大面積光斑和不均勻光斑的檢測。
應(yīng)用
薄膜、片材、無紡布、金屬、各種涂膜等。
適配機(jī)
貼膜、制片機(jī)等